Patentdaten IT-gestützt analysiert

Weiße Flecken auf der Landkarte waren über Jahrhunderte hinweg eine Herausforderung für Entdecker. Forscher und Entwickler suchen auch heute noch nach weißen Flecken auf der Landkarte technischer Innovationen – im Rahmen so genannter Patentdaten-Analysen.

Da die Zahl der Patentanmeldungen und neuen technischen Problemlösungen täglich steigt, ist es nach Angaben des Fraunhofer IAO unerlässlich, dabei auf IT-gestützte Methoden zurück zu greifen. Damit könnten Technologiepotenziale sowie Trends identifiziert und Risiken der Produktentwicklung minimiert werden, hieß es. Darüber hinaus sei der eigene technologische Stand im Vergleich zu Wettbewerbern darstellbar.

Eine aktuelle Studie des Instituts fasst nun den Stand der Technik im Bereich der White-Spot-Analyse sowie der IT-gestützten Patentdatenanalyse zusammen. Zudem wird die vom Fraunhofer IAO entwickelte Analysemethode theoretisch und anhand eines praktischen Beispiels erläutert. Die Fallstudie beleuchtet die Chancen und Risiken für Unternehmen im Bereich Elektromobilität, unter Berücksichtigung der Wettbewerbssituation.

Die Studie ‘IT-gestützte White-Spot-Analyse – Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen’ richtet sich an produzierende Unternehmen und IP-Management-Experten. Sie ist voraussichtlich ab Mitte Dezember für 45 Euro über den IAO-Shop online erhältlich.